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      PID (Potential Induced Degradation)，即潛在電勢(shì)誘導(dǎo)衰減，是指組件的輸出功率在高強(qiáng)度負(fù)電壓誘導(dǎo)下發(fā)生衰減的現(xiàn)象。電站的實(shí)際運(yùn)行中，系統(tǒng)電壓對(duì)組件有持續(xù)的“電勢(shì)差”誘發(fā)衰減作用，嚴(yán)重時(shí)會(huì)導(dǎo)致功率衰減50%以上。系統(tǒng)、組件和電池片三個(gè)方面都可能引起PID現(xiàn)象。 

      在組件層面，使用高性能的封裝材料可以有效解決這一問(wèn)題。針對(duì)PID問(wèn)題，福斯特研發(fā)中心憑借其多年的EVA膠膜生產(chǎn)、研發(fā)經(jīng)驗(yàn)，經(jīng)過(guò)大量的實(shí)驗(yàn)，成功推出多種PID問(wèn)題的完全解決方案。 

      方案一是通過(guò)提高EVA膠膜的絕緣性能和阻隔性，從而使太陽(yáng)能電池組件完全可以通過(guò)相關(guān)權(quán)威機(jī)構(gòu)的PID測(cè)試。（測(cè)試條件為60溫度、85%濕度，在負(fù)1000伏電壓下，經(jīng)過(guò)96小時(shí)，其功率損失小于2%） 

      方案二是公司研發(fā)出的新型TF膠膜系列產(chǎn)品，該系列產(chǎn)品具有優(yōu)越的絕緣性能和阻隔性，可幫助組件通過(guò)85溫度、85%濕度、96小時(shí)的高標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試，是我司強(qiáng)烈推薦的完全解決PID問(wèn)題的方案。